वायरलेस 8.5 * 8.5 * 3 मिमी 2700 एचजेड माइक्रो एसएमडी बजर 3 वी 5 वी 1.5 वी

3V5V 8.5 * 8.5 * 3 मिमी SMD बजर 1.5v / 3v / 5v 2700HZ माइक्रो एसएमडी वायरलेस इलेक्ट्रॉनिक आलम बजर स्पीकर

१। SMD PIEZO के शीर्ष खरीदारों खरीदार विवरण

बजर एक एकीकृत संरचना के साथ एक इलेक्ट्रॉनिक साउंडर है।यह डीसी वोल्टेज द्वारा संचालित है और व्यापक रूप से कंप्यूटर, प्रिंटर, कॉपियर, अलार्म, इलेक्ट्रॉनिक खिलौने, ऑटोमोटिव इलेक्ट्रॉनिक उपकरण, टेलीफोन, टाइमर और अन्य इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों जैसे इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों में एक साउंडिंग डिवाइस के रूप में उपयोग किया जाता है।बजर मुख्य रूप से दो प्रकार के पाइजोइलेक्ट्रिक बजर और इलेक्ट्रोमैग्नेटिक बजर में विभाजित है।बजर को सर्किट में "एच" या "हा" अक्षर द्वारा दर्शाया गया है (पुराना मानक "एफएम", "जेडजेडजी", "एलबी", "जेडी", आदि) है।
1. परीक्षण की स्थिति
उत्पाद परीक्षण की स्थिति: तापमान: 5 ℃ 35 ℃, आर्द्रता: 45% RH 85% आरएच, वायु दबाव: 860 a 1060hPa।
मानक परीक्षण की स्थिति: तापमान: 25 ℃ 3 ℃, आर्द्रता: 60 RH 10% आरएच वायुदाब: 860 a 1060hP

२। SMD PIEZO के शीर्ष खरीदारों खरीदार आयाम

टेस्ट सर्किट टेस्ट डिवाइस

गुंजयमान आवृत्ति 50% कर्तव्य चक्र के साथ एक वर्ग तरंग है, और ट्रांजिस्टर की अनुमति देने के लिए सिग्नल वोल्टेज पर्याप्त होना चाहिए
संतृप्त करना।
 

आवृत्ति प्रतिक्रिया वक्र

3Vo-p पर 50% कर्तव्य चक्र के साथ एक वर्ग तरंग में, परीक्षण दूरी 10 सेमी है

सोल्डर सोल्डरिंग की स्थिति:

.रफ्लो सोल्डरिंग कर्व

नोट: (1) उत्पाद रिफ्लो सोल्डरिंग मशीन से गुजरने के बाद, सभी विद्युत गुणों को भीतर रखा जाना चाहिए
विशेष विवरण।
(2) रिफलो सोल्डरिंग का ऑपरेटिंग तापमान अनुशंसित सीमा के भीतर होना चाहिए।यदि यह सीमा से अधिक है, तो यह उत्पाद के प्रदर्शन को प्रभावित कर सकता है।

विश्वसनीयता परीक्षण

निम्नलिखित परीक्षणों में से किसी के बाद, निम्नलिखित मानकों को पूरा किया जाना चाहिए।उपस्थिति और विद्युत प्रदर्शन (ध्वनि दबाव को छोड़कर) में कोई दोष या क्षीणन नहीं होना चाहिए, और ध्वनि दबाव विनिर्देश में न्यूनतम ध्वनि दबाव के 10dB से कम नहीं हो सकता है।
6.1 जीवन परीक्षण
25 test 10 ° C के तापमान पर परीक्षण टुकड़ा रखें और 96 घंटे तक परीक्षण करने के लिए एक रेटेड वोल्टेज और 1/2 के एक कर्तव्य अनुपात के साथ एक अनुनाद आवृत्ति वर्ग तरंग इनपुट करें।
6.2 उच्च तापमान परीक्षण
परीक्षण का टुकड़ा 96 घंटे के लिए + 80 डिग्री सेल्सियस पर संग्रहीत किया गया था, बाहर ले जाया गया और 3 घंटे के लिए सामान्य तापमान पर रखा गया, और फिर परीक्षण किया गया।
6.3 कम तापमान परीक्षण
परीक्षण टुकड़ा -30 डिग्री सेल्सियस के तापमान पर 96 घंटे के लिए संग्रहीत किया जाता है, बाहर ले जाया जाता है और 3 घंटे के लिए सामान्य तापमान पर रखा जाता है, और फिर परीक्षण किया जाता है।
6.4 आर्द्रता परीक्षण
तापमान + 40 and 3 ℃ और आर्द्रता 90%% 95% की स्थिति में 48 घंटे के लिए परीक्षण टुकड़ा रखो, फिर इसे 3 घंटे के लिए कमरे के तापमान पर रखें और फिर परीक्षण करें।
6.5 तापमान झटका परीक्षण
निम्नलिखित तापमान परिवर्तन की स्थिति के तहत परीक्षण टुकड़ा रखो: 60 ℃ 1 घंटा → 25 ℃ 3 घंटे → -20 ℃ 1 घंटा → 25 ℃ 3 घंटे (1 चक्र), एक चक्र प्रयोग पूरा करने के बाद, 1 घंटे एक प्रयोग के बाद जारी रखें, परीक्षण चक्र की कुल संख्या: 10 चक्र।
6.6 तल परीक्षण
परीक्षण टुकड़े की मानक पैकेजिंग के बाद (3 पक्ष और बॉक्स के 6 पक्ष), यह एक मोटी लकड़ी के बोर्ड या 75 सेमी मोटी हार्ड बोर्ड पर 75 सेमी की ऊंचाई से गिरता है
6.7 यांत्रिक कंपन परीक्षण
निम्नलिखित परिस्थितियों में प्रयोग के बाद फिर से परीक्षण करें: कंपन की गति: 1000 गुना / मिनट;आयाम: 1.5 मिमी;समय: स्वतंत्रता की 3 डिग्री की कुल के लिए एक डिग्री की स्वतंत्रता की दिशा बदलने के लिए 1 घंटे।
ध्यान दें:
उत्पाद में चुंबकीय सामग्री, पानी में घुलनशील सामग्री, संक्षारक गैसों आदि जैसे अप्रासंगिक सामग्रियों से बचने के लिए आवश्यक है क्योंकि ये अप्रासंगिक सामग्री उत्पाद के विद्युत प्रदर्शन को प्रभावित करेंगे।

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